Атомно-силовой микроскоп NTEGRA Prima (NT-MDT, Россия)

Атомно-силовой микроскоп NTEGRA Prima (NT-MDT, Россия)

Получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного. Получение 3D-модели поверхности, определение ее шероховатости. Исследование электрических и магнитных свойств.

Характеристика прибора.

Сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, основанный на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью исследуемого образца. Кантилевер может изгибаться не только под действием непосредственно контактных сил, но также и под действием сил, действующих на расстоянии – относительно короткодействующих Ван-дер-Ваальсовых и более дальнодействующих электрических и магнитных сил. Существуют статические и динамические контактные, прерывисто-контактные, бесконтактные и многопроходные методы и методики сканирования.

Преимущества метода:

АСМ позволяет получить микрофотографии высокого разрешения. Измерения проводятся при атмосферном давлении (вакуумная система как в сканирующем электронном микроскопе не требуется), поэтому возможны исследования органических веществ и биологических объектов без сложной пробоподготовки (проводящие и не проводящие).

Получаемая информация

Объекты исследования: металлы, сплавы, оксиды, полимеры, керамика, углеродные (органические и неорганические) соединения и т.д. в виде волокон, пленок, суспензий, блоков. Характеристика надмолекулярной структуры и морфологии поверхности объекта исследования.

Категория: оборудование для атомно-силовой микроскопии.

Анонс
Оставить заявку